


























Die internationale Cybersecurity-Norm IEC 62443 etabliert sich zunehmend als Standard für industrielle IT- und OT-Sicherheit. Sie unterstützt Hersteller dabei, Risiken in industriellen Netzwerken zu reduzieren, sichere Entwicklungsprozesse aufzubauen und Anforderungen wie den Cyber Resilience Act (CRA) vorzubereiten.
Im zweitägigen Workshop IEC 62443: Industrial Security für Produkthersteller lernen Sie die zentralen Inhalte der Norm IEC 62443 kennen – insbesondere die relevanten Teile 4-1 und 4-2 zu Security Development Lifecycle (SDL) und technischen Sicherheitsanforderungen.
Sie erhalten einen Überblick über die wichtigsten Konzepte und Anforderungen der Norm, darunter die acht Praktiken aus IEC 62443-4-1 für sichere Produktentwicklung und -wartung. Außerdem erfahren Sie, wie Sicherheitsstufen und Komponentenanforderungen definiert werden und wie sich Threat Modeling praktisch umsetzen lässt.
Anhand praxisnaher Beispiele lernen Sie, wie sich Anforderungen der IEC 62443 in Entwicklungs- und Wartungsprozesse integrieren lassen. Dabei erhalten Sie Einblicke in typische Herausforderungen bei der Umsetzung sicherer OT- und ICS-Produkte.
| Anmeldung und Termine | |
|
Juli 07.07. – 08.07.2026 |
Online-Workshop, 09:00 – 13:00 Uhr |
|
Oktober 20.10. – 21.10.2026 |
Online-Workshop, 09:00 – 13:00 Uhr 10 % Frühbucher-Rabatt bis zum 22. Sep. 2026 |
Sie profitieren von der direkten Anleitung durch Ihre Trainerin Luise Werner, SDL- und OT-Security-Beraterin bei der secuvera GmbH. Sie begleitet Hersteller von ICS- und OT-Komponenten bei der Einführung sicherer Entwicklungsprozesse und auf dem Weg zur IEC-62443-4-1-Zertifizierung. Im Workshop vermittelt sie Erfahrungen aus realen Projekten und zeigt, wie sich normative Anforderungen praxisnah umsetzen lassen.
Der Workshop richtet sich an OT-Anwender, Entwickler von Automatisierungstechnik sowie Sicherheitsverantwortliche aus der Industrie, die sichere Entwicklungsprozesse für industrielle Systeme etablieren möchten.
(ilk)
此内容由惯性聚合(RSS阅读器)自动聚合整理,仅供阅读参考。 原文来自 — 版权归原作者所有。