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双极型晶体管BJT的掺杂方式、少子分布与理想直流特性
hiDandelion · 2024-08-14 · via hiDandelion's Space

在研究过程中,我们忽略产生、复合电流,并且只研究小注入情况。

扩散型晶体管#

掺杂方式#

扩散型晶体管采用均匀基区的掺杂方式。

少子分布#

扩散方程:

∂u∂t=D∇2u−u−u0τ\frac{\partial u}{\partial t}=D\nabla^2 u-\frac{u-u_0}{\tau}

由扩散方程和稳态条件即可得到少子浓度方程:

d2udx2−u−u0L2=0\frac{d^2 u}{dx^2}-\frac{u-u_0}{L^2}=0

L2=DτL^2=D\tau

为了表达上的简便,在上面的公式中,少子浓度统一用uu表示,平衡少子浓度浓度统一用u0u_0表示。

解少子浓度方程,即可计算出在不同的xx处少子的浓度。

直流特性#

饱和电流公式:

Js=qDppn0Lp+qDnnp0Ln=qDpni2LpND+qDnni2LnNAJ_s=\frac{q D_p p_{n0}}{L_p}+\frac{q D_n n_{p0}}{L_n}=\frac{q D_p n_i^2}{L_p N_D}+\frac{q D_n n_i^2}{L_n N_A}

理想二极管方程:

J=Js[exp⁡(qVkT)−1]J=J_s[\exp(\frac{qV}{kT})-1]

漂移型晶体管#

掺杂方式#

扩散型晶体管采用非均匀基区的掺杂方式。

在研究过程中我们将假设Nb(x)N_b(x)为指数分布:

Nb(x)=Nb(0)exp⁡(−ηxWb)N_b(x)=N_b(0)\exp(\frac{-\eta x}{W_b})

由于非均匀的掺杂会导致基区的内建电场,用基区电场因子η\eta来表征掺杂方式与内建电场强弱。

少子分布#

由于计算上的复杂性,这里实际上是无法得到基区少子分布n(x)n(x)的,只能通过JnbJ_{nb}来表示。

Jnb(x)Nb(x) dx=qDnb d[Nb(x)npb(x)]J_{nb}(x)N_b(x)\,dx=qD_{nb}\,d[N_b(x)n_{pb}(x)]

npb(x)=−JnbqDnb(Wbη){1−exp⁡[−ηWb(Wb−x)]}n_{pb}(x)=-\frac{J_{nb}}{qD_{nb}}(\frac{W_b}{\eta})\{1-\exp[-\frac{\eta}{W_b}(W_b-x)]\}

直流特性#

这里首要关注基区电流JnbJ_{nb},由于不考虑势垒区复合电流,因此有Jnb=JneJ_{nb}=J_{ne}

在漂移型晶体管中,JnbJ_{nb}不仅由扩散电流组成,还包括漂移电流。

Jnb=Jdnb+JDnb=qμnbnpb(x)Eb(x)+qDnbdnpbdxJ_{nb}=J_{d_{nb}}+J_{D_{nb}}=q\mu_{nb}n_{pb}(x)E_b(x)+qD_{nb}\frac{dn_{pb}}{dx}

值得注意的是,引起漂移电流的电场强度为一个常数。

Eb(x)=−kTqλE_b(x)=-\frac{kT}{q\lambda}

λ=Wbη\lambda=\frac{W_b}{\eta}

计算扩散电流时,由于直接使用浓度梯度计算已经不再现实。这里需要利用Jnb=JneJ_{nb}=J_{ne},计算时用Gummel数QbQ_b代替LnNAL_n N_A

Jne=−qDnbni2Qb[exp⁡(qVekT)−1]J_{ne}=-\frac{qD_{nb}n_i^2}{Q_b}[\exp(\frac{qV_e}{kT})-1]

Qb=∫0WbNb(x) dxQ_b=\int_0^{W_b}N_b(x)\,dx

扩散型晶体管与漂移型晶体管的区别#

在扩散型晶体管中,电子在基区主要通过扩散运动,而在漂移型晶体管中,电子主要通过漂移运动。由于在漂移型晶体管中内建电场加速电子向集电极移动,电子在基区的停留时间更短,响应速度更快。